Москва:
9:30 до 18:00
Санкт-Петербург:
9:30 до 18:00
search-popup

ГОСТы

Общероссийский классификатор стандартовЭЛЕКТРОНИКАОптоэлектроника. Лазерное оборудование *Включая фотоэлементы

ГОСТ 5.2105-73. Микроскоп лазерный эллипсометрический ЛЭМ-2. Требования к качеству аттестованной продукции

Настоящий стандарт распространяется на лазерный эллипсометрический микроскоп ЛЭМ-2, предназначенный для определения эллипсометрических параметров поляризованного света, определяемых по углам поворота оптических элементов в момент погасания, что позволяет использовать прибор для измерения толщины и показателя преломления прозрачных диэлектрических покрытий на отражающих полированных поверхностях различных материалов и, в частности, на полупроводниковых пластинах, а также для контроля равномерности и однородности диэлектрических пленок по площади и определения наличия и толщины окисла в окнах, вытравленных в процессе изготовления полупроводниковых приборов

Название на англ.:Laser ellipsometric microscope ЛЭМ-2. Quality requirements of sertified products
Тип документа:стандарт
Статус документа:действующий
Число страниц:13
Дата актуализации текста:22.03.2010
Дата актуализации описания:22.03.2010
Дата издания:04.10.1973
Дата введения в действие:01.09.1973
Дата последнего изменения:23.06.2009