Москва:
9:30 до 18:00
Санкт-Петербург:
9:30 до 18:00
search-popup

ГОСТы

Общероссийский классификатор стандартовЭЛЕКТРОТЕХНИКА → Полупроводниковые материалы

29.045. Полупроводниковые материалы

1 2

  • ГОСТ 4.64-80.
    действующий
    от: 22.03.2010
    Система показателей качества продукции. Полупроводниковые материалы. Номенклатура показателей
    Production quality system. Semiconductor materials. Indices nomenсlature
    Настоящий стандарт устанавливает номенклатуру основных показателей качества объемных монокристаллов полупроводниковых материалов, включаемых в ТЗ на НИР по определению перспектив развития этой группы продукции, государственные стандарты с перспективными требованиями, а также номенклатуру показателей качества, включаемых в разрабатываемые и перспективные стандарты на продукцию, ТЗ на ОКР, технические условия, карты технического уровня и качества продукции
  • ГОСТ 2169-69.
    действующий
    от: 22.03.2010
    Кремний технический. Технические условия
    Silicon technical. Specifications
    Настоящий стандарт распространяется на кремний, получаемый путем восстановительной плавки кварцита в дуговых электропечах, предназначенный для изготовления кремнийсодержащих сплавов, кремнийорганической продукции, полупроводникового кремния, а также для спеццелей
  • ГОСТ 19014.0-73.
    действующий
    от: 22.03.2010
    Кремний кристаллический. Общие требования к методам химического анализа
    Crystal silicon. General requirements for methods of chemical analysis
    Настоящий стандарт устанавливает общие требования к методам химического анализа кристаллического кремния
  • ГОСТ 19014.1-73.
    действующий
    от: 22.03.2010
    Кремний кристаллический. Методы определения алюминия
    Crystal silicon. Methods of aluminium determination
    Настоящий стандарт устанавливает титриметрический и атомно-абсорбционный методы определения алюминия (при массовой доле алюминия от 0,30 до 1,60 %) в кристаллическом кремнии
  • ГОСТ 19014.2-73.
    действующий
    от: 22.03.2010
    Кремний кристаллический. Методы определения железа
    Crystal silicon. Methods of iron determination
    Настоящий стандарт устанавливает фотометрический и атомно-абсорбционный методы определения железа (при массовой доле железа от 0,3 до 1,6 %) в кристаллическом кремнии
  • ГОСТ 19014.3-73.
    действующий
    от: 22.03.2010
    Кремний кристаллический. Методы определения кальция
    Crystal silicon. Methods of calcium determination
    Настоящий стандарт устанавливает титриметрический и атомно-абсорбционный методы определения кальция (при массовой доле кальция от 0,30 до 1,60 %) в кристаллическом кремнии
  • ГОСТ 19014.4-73.
    действующий
    от: 22.03.2010
    Кремний кристаллический. Методы определения титана
    Crystal silicon. Methods of titanium determination
    Настоящий стандарт устанавливает фотометрический и атомно-абсорбционный методы определения титана (при массовой доле титана от 0,10 до 0,40 %) в кристаллическом кремнии
  • ГОСТ 19658-81.
    действующий
    от: 22.03.2010
    Кремний монокристаллический в слитках. Технические условия
    Monocrystalline silicon in ingots. Specifications
    Настоящий стандарт распространяется на слитки монокристаллического кремния, получаемые методом Чохральского и предназначенные для изготовления пластин-подложек, используемых в производстве эпитаксиальных структур и структур металл-диэлектрик-полупроводник
  • ГОСТ 22265-76.
    действующий
    от: 22.03.2010
    Материалы проводниковые. Термины и определения
    Conductor materials. Terms and definitions
    Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и определения основных понятий в области проводниковых материалов. Термины, установленные настоящим стандартом, обязательны для применения в документации всех видов, учебниках, учебных пособиях, технической и справочной литературе
  • ГОСТ 22622-77.
    действующий
    от: 22.03.2010
    Материалы полупроводниковые. Термины и определения основных электрофизических параметров
    Semiconductor materials. Terms and definitions
    Настоящий стандарт устанавливает применяемые в науке, технике и производстве термины и определения основных понятий полупроводниковых материалов

1 2